光谱仪光谱干扰浅析
在光谱仪进行分析工作中,充分发挥了计算机的数据处理能力来达到分析测试目的。而光谱仪分析中具有的一大难题:光谱干扰及背景校正,在做样品的检测中,PS等元素由于背景及谱线干扰严重。

光谱干扰是指:在做低含量或者痕量元素做定量分析时由于谱线弱,某些高含量元素或与分析元素波长相差很小的一些元素在此分析通道内产生辐射,这样在同一通道内干扰元素就会影响本通道的分析元素。
背景干扰是指分析样品中多原子状态物质对光源辐射所产生的散射,是光谱本底在本通道元素光强值上的附加。
在光谱上,对于指定分析线,因为样品中成分很复杂元素谱线之间可能互相重要了解该元素的灵敏线可能被干扰的情况,从谱线表中查出所有可能干扰的元素,在这些元素中,首先去掉那些在工作的光源条下 根本不可能被激发的元素,或者由于样品的特点不可能存在于样品中的元素。
对其余可能干扰的元素,应逐个检查它们的灵敏线如果某元素的灵敏线没有在光谱中出现,则应认为样品中没有这个元素干扰,如果确有其灵敏线在光谱中出现,只能说分析元素谱上可能有该元素的谱线叠加在上面,在这种情况下,对于要检定的元素,还不能作肯定的判断。
另外,在遇到谱线干扰时,有时利用样品中元素的挥发性不同,也可以排除元素之间的谱线重叠干扰,当易挥发元素和难挥发元素的谱线互相重叠或干扰时,可采用分段曝光。
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